同一傾角的光經(jīng)上、下表面反射(或折射)后相遇形成同一條干涉條紋,不同的干涉明紋或暗紋對(duì)應(yīng)不同的傾角,這種干涉稱做等傾干涉.等傾干涉一般采用擴(kuò)展光源,并通過透鏡觀察.
手指用力壓緊玻璃片時(shí),空氣膜厚度變化,條紋也隨之改變.根據(jù)這個(gè)道理,可以測定平面的平直度.測定的精度很高,甚至幾分之一波長那么小的隆起或下陷都可以從條紋的彎曲上檢測出來。
薄膜干涉原理廣泛應(yīng)用于光學(xué)表面的檢驗(yàn)、微小的角度或線度的精密測量、減反射膜和干涉濾光片的制備等。利用薄膜干涉還可以制造增透膜。
在照相機(jī)、放映機(jī)的透鏡表面上涂上一層透明薄膜,能夠減少光的反射,增加光的透射,這種薄膜叫做增透膜。平常在照相機(jī)鏡頭上有一層反射呈藍(lán)紫色的膜就是增透膜。
在300℃基板500nm區(qū)域折射率為2.45,在波長短過400nm時(shí)有吸收,傳統(tǒng)方法蒸發(fā)缺乏緊密性,用氧離子助鍍可取得n=2.35(500nm)的低吸收性薄膜,一般為顆粒狀,還可用一增透膜和濾光片等。
由薄膜產(chǎn)生的干涉。薄膜可以是透明固體、液體或由兩塊玻璃所夾的氣體薄層。入射光經(jīng)薄膜上表面反射后得束光,折射光經(jīng)薄膜下表面反射,又經(jīng)上表面折射后得第二束光,這兩束光在薄膜的同側(cè),由同一入射振動(dòng)分出,是相干光,屬分振幅干涉。若光源為擴(kuò)展光源(面光源),則只能在兩相干光束的特定重疊區(qū)才能觀察到干涉,故屬定域干涉。對(duì)兩表面互相平行的平面薄膜,干涉條紋定域在無窮遠(yuǎn),通常借助于會(huì)聚透鏡在其像方焦面內(nèi)觀察;對(duì)楔形薄膜,干涉條紋定域在薄膜附近。
由薄膜上、下表面反射(或折射)光束相遇而產(chǎn)生的干涉.薄膜通常由厚度很小的透明介質(zhì)形成.如肥皂泡膜、水面上的油膜、兩片玻璃間所夾的空氣膜、照相機(jī)鏡頭上所鍍的介質(zhì)膜等.比較簡單的簿膜干涉有兩種,一種稱做等厚干涉,這是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的干涉條紋.薄膜厚度相同的地方形成同條干涉條紋,故稱等厚干涉.牛頓環(huán)和楔形平板干涉都屬等厚干涉.另一種稱做等傾干涉.當(dāng)不同傾角的光入射到折射率均勻,上、下表面平行的薄膜上時(shí)。