正業(yè)科技進品測厚儀圖,RMP30S測厚儀,廣西測厚儀

面銅測厚儀 菲希爾手持面銅測厚儀屬于一款無損，便用攜帶的測厚儀，它無損、快速、并且不會受到背面銅層的影響。特別適用于測量多層或是較薄的板材上的銅厚，因為該測量法了兩面相對的銅層不會相互影響測量結(jié)果。 面銅測厚儀技術(shù)參數(shù)： 量程：0-120um 精度： > 5 - 50 μm: ± 0.5 μm 50 - 80 μm: ≤ 1 % of value 80 μm: ≤ 2 % of value 測試面積：10*15mm 菲希爾X射線熒光測厚儀X-RAY54000 菲希爾X射線熒光測厚儀X-RAY54000用于生產(chǎn)線上連續(xù)測量的法蘭式測量頭。測量帶狀物，薄膜或玻璃的金屬元素。在空氣和真空都可以測量。提供水冷版本儀器。 菲希爾膜厚測量X-RAY系列 樣品定位簡便的特點： 膜厚測量儀XDLM-PCB 200型設(shè)計用途：能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXRF），用于測量微小結(jié)構(gòu)上的薄鍍層厚度和材料分析 測量元素范圍：從元素氯(17)到鈾（92），多可同時測定24種元素。 小測量點約為：0.16mm 測量距離：0-10mm (0-0.4in),使用受專利保護的DCM測量距離補償法 X射線探測器：比例接收器